電子元器件的可靠性增長試驗方法簡介
電子元器件的可靠性增長試驗方法簡介
概述
電子元器件可靠性增K分析是zui近發(fā)展起來的評價產(chǎn)品可靠性的一種新技術(shù)，是在 產(chǎn)品研制階段，通過試驗的方法來暴露電子元器件可靠性的薄弱環(huán)節(jié)，提供受試元器件在 規(guī)定條件下失效模式(失效的外部表現(xiàn)。如發(fā)射機無輸出功率,接收機靈敏度降低等）和 失效機理(導致失效的內(nèi)在原因，研究與失效有關的物理、化學過程和變化）的工程信息， 通過深入細致的分析研究,尋找并確定有效的改正措施,防止失效的再次出現(xiàn)，使得電子 元器件的固有可靠性得到確實的提高(增長）。所以，電子元器件可靠性增長試驗(及可靠 性研制試驗）不是以評定某個統(tǒng)計試驗方案是否通過為目的，而是通過試驗一分析一改 進一再試驗的方法，以求得產(chǎn)品可靠性增長的一種試驗。因此，可靠性增長試驗的要求， 對受試產(chǎn)品可靠性的評價方法與一般的鑒定試驗、驗收試驗不*一樣。美國標準 MIL - STD — 2068是可靠性研制試驗方法標準。MIL — STD —1635是可靠性增長試驗 方法標準。都為可靠性增長分析和可靠性增長評價提供了科學方法。現(xiàn)在有很多產(chǎn)品在 研制階段沒有進行可靠性增長試驗,以致在定型時、定型后的可靠性試驗中，或在定型后 的現(xiàn)場使用中，暴露出大zui的質(zhì)zui和可靠性問題，通過對失效的分析研究，采取一些改進 措施,提高了產(chǎn)品的可靠性水平。這樣做對提高產(chǎn)品的可靠性、滿足用戶要求等是有益 的、必需的。但是，產(chǎn)品已經(jīng)定型生產(chǎn)了,并在現(xiàn)場已實際使用，再進行改進付出的代價是 很大的，難免造成很大的浪費。如果在研制階段就進行可靠性增長分析，將產(chǎn)品的失效模 式及失效機理消除在搖籃中，就可以避免定型后進行返工或改進造成的人力、物力的浪 費。更可以避免產(chǎn)品在現(xiàn)場使用中，因失效所造成的嚴重的有時是不可彌補的損失，同時 還可以大大縮短產(chǎn)品的研制周期。有許多的實例說明，產(chǎn)品研制階段單純地進行功能和 性能設計，雖然樣機研制出來了,但由于可靠性水平低，而不能定型，或者勉強定型了，但 生產(chǎn)出來的產(chǎn)品不能滿足實際現(xiàn)場使用要求，造成很大浪費,失去很多寶貴時間。例如， 某通信設備,從功能和性能設計到做出8臺樣機只花了兩年多時間，但由于可靠性過不了 關，于是，進行元器件可靠性攻關試驗和整機可靠性改進,花費的時間達四年之多。還有 某公司生產(chǎn)的定向指揮儀，*的300多臺設備不可靠不能使用，要重新花錢買一批新設 備，同時拆舊裝新還浪費了大zui的人力和時間。所以,產(chǎn)品可靠性增長試驗和產(chǎn)品可靠性 增長分析，在產(chǎn)品研制中處于非常重要的地位。產(chǎn)品可靠性增長試驗能使產(chǎn)品可靠性達 到預期的水平，并能縮短試制周期，減少試制經(jīng)費。
可靠性增長試驗是電子元器件可靠性試驗的一種類型，適用于各類銦電子元器件的 可靠性增長試驗，而且與鑒定試驗和驗收試驗一樣是電子元器件整個可靠性工程的一個 重要組成部分?？煽啃栽鲩L試驗的方法和標準是與可靠性名詞、術(shù)語、鑒定試驗與驗收試 驗、環(huán)境試驗、設備可靠性預計手冊等標準配合使用的。除了本章的內(nèi)容外，以上各章所 述的基本理論和要求，只要適用于可靠性增長試驗，都可以直接應用。
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